Vrstični elektronski mikroskop na poljsko emisijo Zeiss ULTRA plus

Vrstični elektronski mikroskop na poljsko emisijo Zeiss ULTRA plus

Naziv opreme:
Vrstični elektronski mikroskop na poljsko emisijo Zeiss ULTRA plus

Vodja:
Izr. prof. dr. Marjan Marinšek
01 479 8589

Odgovorna oseba:
Dr. Tina Skalar
01 479 8587

Namembnost opreme:
Vrstični elektronski mikroskop na poljsko emisijo Zeiss ULTRA plus je opremljen s:
• Schottky-jevim sistemom poljske emisije,
• Lečnim (In-lens) detektorjem sekundarnih elektronov (SE), ki je nameščen nad objektivno lečo,
• Detektorjem tipa Evernhart-Thornley za detekcijo sekundarnih elektronov,
• EsB - energijsko selektivnim detektorjem povratno sipanih elektronov (BSE), nameščenim nad lečnim detektorjem,
• AsB – kotno selektivnim detektorjem povratno, ki je vgrajen v pol objetivne leče,
• STEM detektorjem presevnih elektronov,
• CCD kamero z infrardečo osvetlitvijo v komori,Napravo za izravnavanje naboja na površini vzorca z lokalnim dovajanjem suhega dušika,
• SDD detektorjem delovne površine 50 mm2 za analizo emitirane rentgenske svetlobe in s programskim paketom INCA za obdelavo rezultatov.
Konfiguracija mikroskopa omogoča kvalitetno analizo praktično vseh trdnih nehlapnih vzorcev ter obdelavo in pripravo podatkov za objavo.

Dostopnost opreme:
Preko odgovorne osebe oziroma rezervacijskega sistema dostopnega na spletu:

Od 1. 1. 2019 se uporablja nov sistem rezervacije:
REZERVACIJA MIKROSKOPA

Storitve

Zainteresirani uporabnik naj se obrne na skrbnika opreme, ki organizira izvedbo meritev. Cena meritev je odvisna od narave vzorca, zahtevnosti eksperimentov in interpretacije podatkov. Informacijo o ceni dobite od skrbnika ob dogovoru za izvedbo eksperimentov.

Difraktometer Nonius Kappa CCD

Naziv opreme:
Rentgenski difraktometer Nonius Kappa CCD za monokristale

Odgovorna oseba:
Doc. dr. Andrej Pevec
01 479 8527

Namembnost opreme:

• Rentgenski difraktometer za monokristale Nonius Kappa CCD je opremljen z molibdenovo rentgensko cevjo (valovna dolžina MoKα = 0,71072 Å) in 90 mm CCD detektorjem.
• Difraktometer je opremljen s kriostatom za tekoči dušik Oxford Cryosystem 700, ki omogoča snemanje uklonskih slik monokristalov v temperaturnem območju med 100 K in sobno temperaturo.
• Primeren za strukturno analizo malih molekul.
• Omogoča orientacijo monokristala in indeksiranje ploskev.
• Izmerjeni difrakcijski podatki omogočajo izvedbo strukturne analize monokristalov, pri čemer so pridobljeni rezultati primerni za objavo.

Dostopnost opreme:
Po dogovoru z odgovorno osebo.

Storitve

Zainteresirani uporabnik naj se obrne na skrbnika opreme, ki organizira izvedbo meritev. Cena meritev je odvisna od narave vzorca, zahtevnosti eksperimentov in interpretacije podatkov. Informacijo o ceni dobite od skrbnika ob dogovoru za izvedbo eksperimentov.

Difraktometer Agilent SuperNova

Rentgenski difraktometer Agilent SuperNova za monokristale

Naziv opreme:
Rentgenski difraktometer Agilent SuperNova za monokristale

Odgovorna oseba:
Izr. prof. dr. Amalija Golobič
01 479 8521

Namembnost opreme:

• Rentgenski difraktometer za monokristale Agilent SuperNova je opremljen z dvema mikrofokus rentgenskima cevema, molibdenovo (valovna dolžina MoKα = 0.71072 Å) in bakrovo (valovna dolžina CuKα = 1.54184 Å) in 135 mm Atlas CCD detektorjem.
• Difraktometer je opremljen s kriostatom za tekoči dušik Cryojet (Oxford Instruments), ki omogoča snemanje uklonskih slik monokristalov v temperaturnem območju med 100 K in sobno temperaturo.
• Primeren za strukturno analizo malih molekul in makromolekul.
• Omogoča simulacijo difraktograma polikristaliničnega materiala na osnovi monokristala, orientacijo monokristala, indeksiranje zunanjih ploskev kristala.
• Izmerjeni difrakcijski podatki omogočajo izvedbo strukturne analize monokristalov, pri čemer so pridobljeni rezultati primerni za objavo.

Dostopnost opreme:
Po dogovoru z odgovorno osebo.

Storitve

Zainteresirani uporabnik naj se obrne na skrbnika opreme, ki organizira izvedbo meritev. Cena meritev je odvisna od narave vzorca, zahtevnosti eksperimentov in interpretacije podatkov. Informacijo o ceni dobite od skrbnika ob dogovoru za izvedbo eksperimentov.

Praškovni difraktometer

Naziv opreme:
Visokoločljivostni rentgenski praškovni difraktometer PANalytical X'Pert PRO

Odgovorna oseba:
Dr. Marta Počkaj
01 479 8521

Namembnost opreme:

• Visokoločljivostni rentgenski praškovni difraktometer PANalytical X'Pert PRO je opremljen s primarnim monokromatorjem, kar vodi do monokromatske bakrove svetlobe (valovna dolžina CuKα1 = 1,5406 Å).
• Omogoča snemanje polikristaliničnih vzorcev na standardni refleksijski način.
V primeru nestabilnih vzorcev ali za izogibanje preferenčni orientaciji je možno transmisijsko snemanje vzorcev v kapilarah.
• Difraktometer omogoča kvalitativno in kvantitativno fazno analizo polikristaliničnih vzorcev. Rezultati analiz so primerni za objavo.

Dostopnost opreme:
Po dogovoru z odgovorno osebo.

Storitve

Zainteresirani uporabnik naj se obrne na skrbnika opreme, ki organizira izvedbo meritev. Cena meritev je odvisna od narave vzorca, zahtevnosti eksperimentov in interpretacije podatkov. Informacijo o ceni dobite od skrbnika ob dogovoru za izvedbo eksperimentov.

Sklopljen sistem za termično analizo

Sklopljen sistem za termično analizo: termogravimetrija ‒ vmesnik za shranjevanje plinskih komponent ‒ plinska kromatografija/masna spektrometrija

Naziv opreme:
Sklopljen sistem za termično analizo: termogravimetrija ‒ vmesnik za shranjevanje plinskih komponent ‒ plinska kromatografija/masna
spektrometrija

Odgovorna oseba:
Izr. prof. dr. Romana Cerc Korošec
01 479 8513

Namembnost opreme:
Sklopljen sistem za termično analizo termogravimetrija ‒ vmesnik za shranjevanje plinskih komponent ‒ plinska kromatografija/masna spektrometrija je opremljen s:

1.)    termoanalizatorjem Mettler Toledo TGA/DSC 3, ki poleg merjenja spremembe mase omogoča tudi merjenje entalpijskih sprememb v vzorcu med segrevanjem. Temperaturno območje meritev je od 25 do 1500 oC. Menjalec vzorcev s 34 pozicijami omogoča avtomatsko menjavo vzorcev. Med meritvijo pečico lahko prepihujemo z enim od naslednjih plinov: argonom, dušikom, zrakom, kisikom, zmesjo argon/vodika, amoniakom in ogljikov dioksidom.
2.)    Vmesnikom IST16, ki med termičnim razpadom omogoča zajem do 16 plinskih vzorcev, sproščenih v različnih stopnjah razpada.
3.)    Plinskim kromatografom z ionsko selektivnim detektorjem (Agilent), kjer poteka analiza vsakega od zajetih plinskih vzorcev. Ta omogoča ločitev posameznih plinskih komponent in njihovo nadaljnjo analizo z masnim spektrometrom. Analiza zajetih plinskih vzorcev poteka po končani termogravimetrični meritvi.

Kratek opis:
Konfiguracija sklopljenega sistema omogoča visokokvalitetno analizo kompleksnejših termičnih razpadov skupaj z analizo sproščenih plinov ter obdelavo in pripravo podatkov za objavo.

Quroum QlSOT ES

Quroum Q150T ES – visoko ločljivostni napraševalnik za napraševanje ogljika in naprševanje kovin

Naziv opreme:
Quroum Q150T ES – visoko ločljivostni napraševalnik za napraševanje ogljika in naprševanje kovin.

Odgovorna oseba:
Dr. Tina Skalar
01 479 8587

Namembnost opreme:
Quroum Q150T ES – visoko ločljivostni napraševalnik za napraševanje ogljika in naprševanje kovin je namenjen obdelavi neprevodnih vzorcev za SEM, TEM in FEGSEM mikroskope in druge analitske metode, kjer je visoko ločljivostno napraševanje potrebno.

Kratek opis napraševalnika:
Q150T ES je opremljen z vakuumskim sistemom z dvostopenjsko oljno tesnjeno rotacijsko črpalko in TMP – turbomolekularno črpalko, merilnikom vakuuma in avtomatskim sistemo delovanja.
Standardna tarča je Cr, lahko pa se uporabljajo še:
Au,Au/Pd,Pt,Pt/Pd,W,Al,C,Fe,Ir,Co,TIN,Mo,Mg,Ta,Cu, Ag,Ni …

Napraševalnik ima zaslon na dotik, ki je zelo enostaven za uporabo
Nastavljajo se lahko parametri naprševanja za posamezne vzorce. Protokoli nepraševanja se lahko shranjujejo.
Ima merilnik debeline napršenega sloja.